Новости кафедры и ОМЭ

За первый месяц 2018 года сотрудниками кафедры и отдела микроэлектроники НИИЯФ были опубликовано несколько статей в высокорейтинговых журналах.

В число лауреатов Премии Правительства Москвы молодым ученым вошли сотрудники отдела микроэлектроники НИИЯФ.

На сайте ЦККО размещены результаты второго тестирования по Атомной физике, проходившего с 5 по 8 декабря 2017 года.

С 5 по 8 декабря 2017 года будет проходить второе тестирование студентов по курсу Атомная физика.